針孔和孔隙檢測(cè)
基體的過(guò)早腐蝕通常是由涂層被破壞所造成的。引起涂層破壞的一個(gè)主要原因是已覆蓋的涂層存在一些缺陷。其中一個(gè)主要的缺陷類型是涂層孔隙，如下所列：
流走和流掛：濕涂層在重力作用下流動(dòng)，留下薄層干膜。
疵點(diǎn)：涂層不會(huì)重新流動(dòng)而覆蓋氣泡從涂層表面逸出時(shí)所留下的空隙。
縮孔：基體潮濕或涂層流動(dòng)性差而產(chǎn)生的空隙。
針孔：空氣逸出表面或本該*除的殘留微粒（如灰塵、沙粒等）造成。
涂層過(guò)厚：當(dāng)基體上涂有過(guò)多涂層時(shí)，涂層干燥后由于涂層內(nèi)力作用會(huì)使涂層產(chǎn)生裂紋。
涂層不足：沒(méi)有涂上涂層的地方或涂層從特殊邊緣、基體角落及焊縫流走。甚至，在粗糙的表面上，涂層不足會(huì)造成表面波峰暴露。所以要考慮到維修成本及相應(yīng)的生產(chǎn)損失。對(duì)涂層的早期檢測(cè)可以防止涂層破壞而引起的不便及昂貴的修理費(fèi)用。用于檢測(cè)涂層缺陷的儀器可參照許多不同的稱謂，包括電火花或JEEP檢測(cè)儀、孔隙或空隙探測(cè)器和針孔檢測(cè)器。

英易高孔隙率儀?Elcometer 266 ：
Elcometer 266 直流孔隙探測(cè)儀能對(duì)涂層表面所含的針孔、裂紋、雜質(zhì)、疵點(diǎn)、氣泡進(jìn)行*準(zhǔn)的檢測(cè)。該儀器的研發(fā)主要是為了解決表面高直流電壓測(cè)試過(guò)程中存在的一些問(wèn)題。與以前使用的檢測(cè)儀相比，此款儀器具有更加**簡(jiǎn)易可靠的優(yōu)點(diǎn)。

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